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簡介
模擬在構(gòu)建任何系統(tǒng)時都起著關(guān)鍵作用。它幫助設(shè)計師預(yù)測問題,然后避免耗時和昂貴的修改。我們的目標(biāo)總是一次性成功!在模擬高速數(shù)字接口時,如果設(shè)計不當(dāng)和簡單PCB接線可能會影響信號質(zhì)量。IBIS模型用于表示設(shè)備的數(shù)字接口。
如IBIS本系列文章的第一部分,IBIS以表格形式列出的電流和電壓是一種行為模型(I-V)以及電壓和時間(V-T)數(shù)據(jù)描述了設(shè)備數(shù)字接口的電氣特性。IBIS模型應(yīng)盡可能準(zhǔn)確,無分析錯誤,以避免以后使用時出現(xiàn)問題。此外,數(shù)字接口的每個部件或設(shè)備都應(yīng)提供可用性IBIS模型。當(dāng)客戶需要時,可以直接從制造商的網(wǎng)頁上下載。但事實并非總是如此。對于IBIS模型用戶經(jīng)常遇到的問題之一是模型的可用性。當(dāng)他們在設(shè)計中選擇的部件沒有時IBIS在模型中,其產(chǎn)品開發(fā)可能會受阻。
IBIS該模型最好由其制造商提供,但用戶也可以創(chuàng)建IBIS模型。本文介紹了如何使用。LTspice,基于SPICE創(chuàng)建最基本的模型IBIS模型。下面用IBIS建模手冊(IBIS 4.介紹0版)中的規(guī)格LTspice模擬設(shè)置。還介紹了如何使用定性和定量質(zhì)量因素來驗證IBIS模型。
什么是最基本?IBIS模型?
幫助客戶使用LTspice創(chuàng)建基本的IBIS模型需要先定義基本一詞;镜腎BIS模型不僅取決于I/O模型關(guān)鍵字也取決于需要建模的數(shù)字緩沖器的類型。這意味著需要重新審視IBIS早期版本定義了緩沖模型的最低要求和當(dāng)時建模的數(shù)字接口類型。事實證明,單端CMOS可使用緩沖器IBIS建模最簡單的數(shù)字IO一、本文將介紹。
圖1 3態(tài)CMOS緩沖器的IBIS模型
表1 基于Model_type的IBIS總結(jié)模型組件
Model_type
[封裝]
C_comp
[GND_ Clamp]
[Power_ Clamp]
[下拉]
[上拉]
V-T表
[斜坡]
輸入
?
?
?
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—
—
—
—
3態(tài)
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I/O
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圖1顯示3態(tài)CMOS緩沖器IBIS模型結(jié)構(gòu)。如第一部分所述,IBIS模型中的組件或關(guān)鍵字取決于模型類型。表1總結(jié)了基本列表IBIS模型來說,模型組件Model_type決定。
應(yīng)用案例
在本文中,我們將使用假設(shè)ADxxxx器件的LTspice模型來創(chuàng)建IBIS模型。它是一個單輸入和單輸出數(shù)字緩沖器,可以引腳。因此,獲得IBIS模型將有兩個輸入(DIN1和EN)、三態(tài)輸出(DOUT1)。
一般來說,生成IBIS模型有五個基本步驟:
■ 建立預(yù)建模程序。
■ 對從SPICE從模型中提取C_comp、V-I和V-T數(shù)據(jù)進行LTspice仿真。
■ 格式化IBIS文件。
■ 使用IBIS分析器測試檢查文件。
■ 比較IBIS模型與SPICE模型在相同加載條件下的模擬結(jié)果。
IBIS模型提供典型數(shù)據(jù)、最小數(shù)據(jù)和最大數(shù)據(jù)。它們通過工作電源的電壓范圍、溫度和工藝來確定[HA1]為了簡潔起見,本文只討論典型條件。
Ibischk Golden Parser該系列可用于檢查IBIS模型是否一致IBIS規(guī)范。ibischk可執(zhí)行文件IBIS.ORG免費獲取網(wǎng)頁。本文采用集成。ibischk的第三方IBIS模型編輯軟件。
預(yù)建模程序
在開始模擬之前,用戶應(yīng)下載設(shè)備的數(shù)據(jù)手冊并安裝它SPICE模型和LTspice文件。初步評估零件的數(shù)字接口數(shù)量和類型(如輸入、泄漏、三態(tài)等)。)通過確定零件。
工作電源電壓、工作溫度、集成電路根據(jù)設(shè)備數(shù)據(jù)手冊確定(IC)加載條件包裝類型、設(shè)備引腳排列、數(shù)字輸出順序規(guī)格(RLoad和/或CLoad),以及低電平輸入電壓的數(shù)字輸入(VINL)高電平輸入電壓(VINH)。ADxxx SPICE表2中列出了模型的指標(biāo)參數(shù)。
所有關(guān)于設(shè)備數(shù)字接口的信息通過使用關(guān)鍵字收集到一個IBIS在文件中。關(guān)鍵字是IBIS如第一部分所述,模型中用括號包括的標(biāo)識符。詳情請參閱本部分。
圖3 [Power_Clamp]和[GND_Clamp]關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)概念圖
[GND_Clamp]和[Power_Clamp]以表格形式列出I-V數(shù)據(jù)顯示數(shù)字緩沖器的靜電放電(ESD)設(shè)備行為。[Power_Clamp]表示以VDD為基準(zhǔn)的ESD接地位表示器件的整體行為GND為基準(zhǔn)的ESD裝置的整體行為。
在LTspice中,I-V可使用數(shù)據(jù).DC SPICE測量命令/指令。DOUT用圖4所示的設(shè)置測量1的接地夾位。該設(shè)置采用適當(dāng)?shù)碾娫措妷簩⒃撛O(shè)備配置為高阻模式(見表5)?梢员WCESD設(shè)備與核心電路隔離。VSWEEP是以GND基準(zhǔn)掃描電壓。使VSWEEP確保只顯示基準(zhǔn)電壓接地GND箝位ESD設(shè)備的特點。
根據(jù)IBIS除電壓軌外,規(guī)格應(yīng)掃描(最好是從-VDD到2 × VDD)的I-V本例從數(shù)據(jù)–1.8 V到 3.6 V。通過直接執(zhí)行此操作,掃描VDD外部電壓將打開電源位ESD器件。為了避免這種情況,首先是–1.8 V至 1.8 V范圍內(nèi)掃描VSWEEP,用外推法加3.6 V數(shù)據(jù)點。這種方法適用于所有I-V數(shù)據(jù)集。
另外,請注意一切I-V數(shù)據(jù)集最多只接受100個數(shù)據(jù)點。若數(shù)據(jù)點超過此數(shù),則在ibischk在分析器測試中會提示錯誤。.DC命令的增量使得到的數(shù)據(jù)點小于或等于99。這是為了容納2 × VDD額外數(shù)據(jù)點的外推。
直流掃描時,模擬中可能會出現(xiàn)非常大的反向電流。為了解決這個問題,從近似二極管勢壘電位(-0.7 V)設(shè)置為VDD ( 1.8 V)。然后將數(shù)據(jù)外推到符合要求–VDD至2 × VDD I-V數(shù)據(jù)。另一種方法是使用小電阻Rser與VSWEEP限制極端電流的串聯(lián)。
圖4 ADxxxx DOUT接地鉗位設(shè)置
單擊操作按鈕,LTspice模擬開始運行。正在評估DOUT所以目標(biāo)節(jié)點是Ix(U1:DOUT1)。盡管從技術(shù)角度來看I(VSWEEP)也是對的,但是IBIS模型需要Ix(U1:DOUT1)電流極性。這是為了盡量減少I(VSWEEP)進一步格式化數(shù)據(jù),使其適合模型。結(jié)果應(yīng)該。模擬完成后,單擊結(jié)果窗口保存數(shù)據(jù),然后單擊文件 -> 將數(shù)據(jù)導(dǎo)出為文本。導(dǎo)航至要保存的目錄,單擊受測節(jié)點,然后單擊OK()。
圖5 接地夾位仿真結(jié)果
圖6 將模擬數(shù)據(jù)導(dǎo)出為文本
[Power_Clamp]因此,掃描電壓類似于接地位置設(shè)置VSWEEP以VDD為基準(zhǔn)。設(shè)置和結(jié)果。
圖7 ADxxxx OUT電源位置設(shè)置及結(jié)果
[下拉]和[上拉]
圖8 I-V關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)概念圖
圖8顯示了I-V關(guān)鍵字結(jié)構(gòu)概念圖。[下拉]和[上拉]表示緩沖器中上拉和下拉元素的行為。以圖表的形式表示,它們看起來像MOSFET的I-V特征曲線。在提取[下拉]和[上拉]數(shù)據(jù)時,了解如何通過設(shè)備的真值表控制從輸出引腳輸出的信號是非常重要的。設(shè)置和提取[下拉]和[上拉]數(shù)據(jù)[GND_Clamp]和[Power_Clamp]類似,即DOUT引腳使能,不處于高阻模式。
提取[下拉]數(shù)據(jù),DOUT引腳應(yīng)設(shè)置為邏輯0輸出或0 V。因此,必須設(shè)置適當(dāng)?shù)碾娫措妷。EN引腳施加1.8 V等效邏輯高壓,使其能夠DOUT1引腳,對DIN邏輯0或0 V,將DOUT引腳設(shè)置為邏輯0輸出?赏ㄟ^真值表(表5)確認。
圖9 ADxxxx OUT1下拉設(shè)置
圖10 ADxxxx OUT1下拉圖
類似于放大[下拉]數(shù)據(jù)MOSFET的I-V特征曲線,。
圖11 ADxxxx DOUT下拉圖(縮放視圖)
保存下拉數(shù)據(jù)時,請注意它構(gòu)成[GND_Clamp]以及[下拉]的總電流。圖12可以更好地說明這一點。需要刪除[GND_Clamp]只需從[下拉]保存數(shù)據(jù)中逐步減去組件。為簡化此操作,[GND_Clamp]電壓增量、開始電壓和結(jié)束電壓必須與[下拉]直流分析相同。
圖12 下拉保存數(shù)據(jù)的實際電流
獲取上拉數(shù)據(jù)的設(shè)置。提供適當(dāng)?shù)碾娫措妷篋OUT1設(shè)置為邏輯1 (1.8 V)。這將確保激活/打開上拉元件。VSWEEP也在–1.8 V至 1.8 V范掃描周圍,以及VDD以這種方式連接為基準(zhǔn)。VSWEEP,可以防止用戶格式化數(shù)據(jù)符合要求IBIS規(guī)范。
圖13 ADxxxx DOUT上拉設(shè)置及結(jié)果
像[下拉]一樣,保存的[上拉]數(shù)據(jù)來自[Power_ Clamp]以及[上拉]總電流的結(jié)果。因此,用戶需要逐步從保存的[上拉]數(shù)據(jù)中刪除數(shù)據(jù)[Power_Clamp]如果它們的直流掃描參數(shù)相同,組件很容易完成。提醒大家,對于所有的組件,I-V使用相同的直流掃描參數(shù)進行數(shù)據(jù)測量。
圖14 保存的[上拉]數(shù)據(jù)的實際電流
[C_comp]
[C_comp]關(guān)鍵字代表緩沖器的電容器,其最小、典型和最大角值不同。它是晶體管和裸片的電容器,不同于包裝電容器?梢酝ㄟ^兩種方式提取[C_comp]。當(dāng)引腳由交流電壓供電時,方程1中的公式或方程2中的公式可以用來計算。
其中:
PLX代理■ ImIac:被測電流的虛值
■ F:交流電源的頻率
■ VAC:交流電源的范圍
使用LTspice進行C_Comp提取
,緩沖電容器電容可以通過提供交流電壓和頻率掃描來提取。由于提供了交流電壓,因此需要測量電流的實際和虛擬部分。當(dāng)使用交流電壓供電時,必須反轉(zhuǎn)電流的極性來測量緩沖器的輸入電流值。測量輸出緩沖器電容時,圖15所示的唯一變化是將交流電源連接到輸出引腳。
圖15 ADxxxx C_comp提取設(shè)置
交流電壓的振幅值可以是任意值,但通常設(shè)置為1 V。它將按照SPICE頻率掃描指令。使用.AC當(dāng)命令繪制波形時,默認設(shè)置為以波特模式顯示,單位為dB。電流值必須設(shè)置為笛卡爾模式,以便緩沖器電容公式可以直接處理。要檢查緩沖器的電容波形,用戶必須先右鍵單擊波形窗口,然后單擊添加布線,然后選擇測量的引腳。兩條線將顯示在波形圖窗口。
實線表示被測電流的實部,虛線表示被測電流的虛部。
圖16 向圖中添加線路對話框
將圖形設(shè)置從波特改為笛卡爾,右鍵單擊波形窗口左側(cè)的y軸,打開左縱軸-振幅對話框。然后將圖形從波特改為笛卡爾。
圖17 將圖設(shè)置從波特到笛卡爾
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